Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

L’UTT confirme son excellence en nanotechnologie

Un partenariat UTT/ Argonne lauréat du programme « Partner University Fund »...

Le connecteur circulaire à baïonnette pour bus de données VEAM CIR-M12 d’ITT Interconnect Solutions

Assure une transmission fiable de données entre véhicules de chemin de fer...

Du nouveau dans le test des mobiles et modules LTE

Le premier testeur LTE du marché avec simulateur de fading intégré...

Zuken des performances découlant de vastes mesures fondées sur des stratégies et les perspectives à long terme

Solutions logicielles pour la conception de circuits imprimés...

TAKAYA : un nom, une référence en termes de test IN SITU depuis 1987.

L’inventeur du concept qui permet de s’affranchir d’un lit à clous pour tester une carte électriquement à la façon In Situ...

EUROPRINT Eger Kft, fabricant Hongrois de circuits imprimés depuis 1973

Rachetée en 1995 par EUROPRINT Belgique...

Quand trop de logique tue

Par Rob Evans, Technical Editor à Altium Limited...

Tout ingénieur est, par nature, logique...

La perspicacité d´AOI

Par Jens Kokott, André Hacke - GÖPEL electronic GmbH

Les exigences aux systèmes AOI pour le test des très petits composants et joints de soudure...

Congrès Brasage 2010

Technologies d’interconnexion de la carte électronique. Les 19 et 20 mai 2010 au centre des congrès du Quartz à Brest...

Vector Fabrics annonce vfAnalyst

Le spécialiste de cloud computing Vector Fabrics automatise l’analyse de code C séquentiel en vue du multi-threading...