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NIWeek – NI, fournisseur de systèmes basés plate-forme permettant aux ingénieurs et aux scientifiques de relever les grands défis techniques de notre temps, annonce aujourd’hui le lancement du nouveau Wireless Test System (WTS), une solution conçue pour réduire radicalement le coût des tests de production sans fil à grande échelle. En dépit de la complexité croissante des tests sans fil, ce système élaboré pour améliorer la vitesse des mesures et le test parallèle permet également aux sociétés d’améliorer le rendement du secteur de la production.

« Les megatrends – ou hypertendances – telles que l’Internet des Objets incitent à équiper de plus en plus d’appareils de fonctionnalités RF et de capteurs qui, traditionnellement, sont coûteuses à tester Pourtant, le coût des tests ne devrait pas faire obstacle à l’innovation ni à la viabilité économique d’un produit », affirme Olga Shapiro, Chef du programme Mesure et Instrumentation chez Frost & Sullivan. « Les entreprises doivent repenser leurs méthodes de test sans fil et adopter de nouveaux modèles pour maintenir leur rentabilité. Étant donné que le WTS repose sur la plate-forme PXI ainsi que sur l’expertise de NI dans ce domaine, nous nous attendons à ce que cette solution ait un impact considérable sur la rentabilité de l’Internet des Objets. »

Le WTS intègre les dernières avancées du matériel PXI et constitue une plate-forme unique pour le test multistandard, parallèle et multiport. Utilisé avec un logiciel de séquençage de test comme le module TestStand Wireless Test, il permet d’améliorer de manière significative l’utilisation des instruments lorsque plusieurs unités sont testées en parallèle.

Le WTS s’intègre facilement dans une chaîne de production, avec des séquences de test prêtes à l’emploi pour les appareils intégrant des circuits de fabricants comme Qualcomm ou Broadcom, ainsi que des unités sous test intégrées ou du contrôle automatique à distance. Ces fonctionnalités augmentent considérablement les performances des équipements de test RF, et permettent de réduire davantage le coût des tests.

« Nous avons testé plusieurs technologies sans fil, du Bluetooth au WiFi en passant par le système GPS et la communication cellulaire, toujours avec le même équipement reposant sur le Wireless Test System », explique Markus Krauss, de HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. « Le WTS ainsi que l’expertise de NOFFZ dans le domaine du test RF nous ont permis de réduire de manière significative la durée des tests ainsi que le temps nécessaire pour rendre notre système de test opérationnel. »

Le WTS est le tout dernier système NI reposant sur le matériel PXI et sur les logiciels LabVIEW et TestStand (voir le Semiconductor Test System, sorti en 2014). Avec le support des normes sans fil LTE Advanced, 802.11ac ou encore BLE (Bluetooth Low Energy), entre autres, le WTS est conçu pour le test de production de points d’accès WLAN, de téléphones cellulaires, de systèmes d’info-divertissement et d’autres appareils multistandards incluant la connectivité cellulaire sans fil et des standards de navigation. La technologie du VST (Transcepteur de signaux vectoriels), conçu par logiciel et intégré au WTS, fournit des performances RF de pointe dans le domaine du test de production, et constitue une plate-forme capable de s’adapter à l’évolution des spécifications de test RF.

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