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Actualité des entreprises

Bilan des Journées nationales de la Mesure 2016

Publication: Août 2016

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Les Journées nationales de la Mesure 2016, organisées en juin à Toulouse, ont associé le CFM et le Réseau Mesure pour une formule originale avec sur un même lieu...
 


- des tutoriels et des ateliers techniques organisés par le CFM,

- une exposition animée par le Réseau Mesure.

Cet événement bi-annuel du Collège Français de Métrologie, troisième édition après Toulon en 2012 et Lyon en 2014, est un peu un ovni de notre planète industrielle survoltée car il laisse une large place aux échanges entre participants.

Au global, 403 personnes se sont ainsi rencontrées à Toulouse sur les deux jours : participants aux tutoriels et ateliers, visiteurs de l’exposition et exposants.

Et cette édition confirme les avis déjà enregistrés lors des éditions précédentes :

- une belle convivialité et une grande proximité entre intervenants/experts et participants,

- un public particulièrement qualifié,

- un contenu technique très concret et directement applicable dans 88% des cas,

- une satisfaction générale pour 95% des sondés.

Cette année, les JM avaient été élargies avec une exposition animée par le Réseau Mesure dans le cadre d’un partenariat inédit. Cette exposition a ainsi rassemblé 53 sociétés : pour une première, l’objectif haut a été atteint, à la grande satisfaction des deux partenaires.

Le CFM et le Réseau Mesure tiennent à remercier les sponsors des JM pour leur soutien financier à l’événement : A+ Métrologie, BEA Métrologie, Beamex, Blet Measurement Group, Cetiat, Climats, E+E Elektronik, Felix Informatique, Hexagon Manufacturing Intelligence, Implex, ISP System, MPQ Electronique, Sika France, STIL, Trescal et Wika. Les autres exposants présents étaient : Acquitek, AOIP/Dimelco, ASC Instrument, Bronkhorst, Citec, CMI, Dewefrance, Eotech, Eurotek/Kréon, Fischer Instrumentation Electronique, FT mesures/LR mesures, Gantner Instruments, Intertek, IRM, Jumo Regulation, Kobold, Lescate, LTS Express/Chronomold, MCE Métrologie, Metroconseil, Micro Epsilon, Mitutoyo, New Imaging technologies, Nikon, NIR Industry, Optris, Oros, PM Instrumentation, Polymesure, Precitec, Rotronic, SDCI,Technicome, TH Industrie, Themacs, Traxx, Ultraflux, Wimesure.

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