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Tektronix, Inc., leader mondial des solutions de mesure, a présenté aujourd’hui le système de test de semi-conducteurs de puissance Keithley S540, système de test paramétrique 48 broches entièrement automatisé pour les tests au niveau du wafer des dispositifs et structures à semi-conducteur de puissance jusqu’à 3kV. Optimisé pour être utilisé avec les derniers matériaux composés des semi-conducteurs de puissance, y compris le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN), le S540 entièrement intégré peut effectuer tous les tests haute tension, basse tension et de capacité en une simple pression sur sa sonde.

Au fur et à mesure qu’augmente la demande de dispositifs à semi-conducteurs de puissance et au fur et à mesure que se généralise la commercialisation du SiC et du GaN, les constructeurs adoptent les essais au niveau du wafer dans leurs processus de production pour optimiser les rendements et améliorer la rentabilité. Pour ces applications, le S540 réduit le coût de propriété en minimisant le temps de test, le temps d’installation des tests et l’espace tout en réalisant des mesures de haute tension de qualité laboratoire.

« Beaucoup de constructeurs utilisent des systèmes de tests hybrides, taillés sur mesure, pour leurs essais de semi-conducteurs de puissance qui nécessitent la modification manuelle des configurations d’essai lors du passage des tests basse tension aux tests haute tension. Comme on pouvait s’y attendre, cela ajoute des étapes aux processus et ralentit la production », a déclaré Mike Flaherty, Directeur Général de la Ligne de Produits Keithley chez Tektronix. « En revanche, le S540 est une solution complète, entièrement intégrée bien adaptée aux environnements de production où de nombreux dispositifs doivent être testés rapidement. »

Pour offrir des performances de niveau production, le S540 peut effectuer des mesures paramétriques sur un maximum de 48 broches sans changer les câbles ou l’infrastructure de la carte de la sonde. Il peut également effectuer des mesures de capacité de transistors tels que Ciss, Coss et Crss jusqu’à 3kV, encore une fois sans reconfiguration manuelle des broches de test. Le S540 relève encore les sorties des essais en proposant des performances de mesure de sous-pA ; il peut également réaliser des tests de courant de fuite haute tension entièrement automatisés en moins d’1 seconde.

En tant que produit commercial standard, le S540 offre des spécifications système entièrement traçables, la conformité aux règles de sécurité, des diagnostics et un service et un support techniques à l’échelle mondiale. Autant de caractéristiques qui font souvent défaut dans les systèmes assemblés ou personnalisés. Le S540 se fonde sur l’expertise en essais paramétriques de semi-conducteurs acquise par Keithley sur plus de 30 années ; il intègre de manière sécurisée et transparente les instruments de test de semi-conducteurs leaders du marché avec les matrices de commutation basse et haute tension, les câbles, les adaptateurs de carte de sonde, les pilotes de sonde et les logiciels de test.

Prix & disponibilité

Le Keithley S540 est disponible et peut être commandé dès maintenant, les livraisons démarrant dès mars 2017. Veuillez contacter votre chargé de compte local pour connaître la grille des tarifs.

http://uk.tek.com/