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Cette nouvelle collaboration permet aux utilisateurs de réduire les tâches manuelles et d’accélérer le lancement des produits sur le marché.

Cadence et ARM finalisent la validation sur silicium avec le processeur ARM Cortex-A73.

Cadence Design Systems, Inc., leader mondial de l’innovation en conception électronique, annonce que sa solution de test Cadence® Modus™ prend désormais en charge l’interface d’autotest mémoire intégré MBIST (Memory Built-In Self-Test) d’ARM®. Les clients pourront ainsi créer efficacement des systèmes sur puce (SoC) intégrant la sécurité fonctionnelle (Safety) en utilisant des processeurs ARM hautes performances. Cadence et ARM ont démontré le succès de cette collaboration en finalisant la validation sur le silicium avec un processeur ARM Cortex®-A73 associé aux fonctions de diagnostic et de génération automatique de patterns de test (ATPG) de la solution de test Modus de Cadence.

Grâce à la prise en charge par Cadence de l’interface MBIST d’ARM, les clients pourront lancer des systèmes sur puce (SoC) innovants sur le marché plus rapidement et avec de meilleures valeurs de puissance, performances et surface (PPA). À titre d’exemple, la solution de test Modus permet aux utilisateurs de l’interface ARM MBIST d’employer l’outil d’autotest mémoire intégré programmable PMBIST pour gérer plusieurs mémoires avec un seul contrôleur MBIST sur un seul bus. Cette solution réduit également l’impact des autotests MBIST sur les chemins (timing paths) critiques, et ceci dans les 2 sens avec les mémoires en mode opérationnel, permettant ainsi d’exécuter des tests fonctionnels à haute vitesse de grande qualité. Enfin, la solution de test Modus fournit une capacité de correspondance physique-logique, réduisant ainsi le recours à des interventions manuelles propices aux erreurs.

http://www.cadence.com/