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Tektronix, Inc., l’un des leaders des solutions de mesure, a annoncé ce jour une solution automatique de test d’émetteur de type C USB 3.1 pour Gen1 et Gen2 qui combine la prise en charge totale de SigTest avec les outils de débogage et d’analyse DPOJET, ce qui permet aux concepteurs de mettre plus rapidement sur le marché des appareils offrant des marges améliorées. La nouvelle solution permet 100 pour cent de couverture des tests de conformité, ainsi que la prise en charge totale des connecteurs et des appareils de Type C, ainsi que les tests de canaux associés.

L’outil officiel pour les tests de conformité électrique SuperSpeed USB 3.1, SigTest, n’offre qu’un aperçu limité de la cause des défaillances et ne propose aucun support pour une analyse supplémentaire. En combinant la prise en charge de SigTest avec DPOJET - outil haut de gamme pour l’analyse du diagramme de l’œil, de la gigue, du bruit et l’analyse temporelle - Tektronix permet désormais aux concepteurs USB de disposer d’une solution beaucoup plus complète que les alternatives qui ne proposent que la prise en charge de SigTest.

« Avec cette version de notre logiciel SuperSpeed USB, il devient facile pour l’écosystème d’obtenir la certification avec USB-IF pour les terminaux et les produits qui utilisent les oscilloscopes Tektronix, » a déclaré Brian Reich, Directeur général des oscilloscopes de performance chez Tektronix. « Avec l’intégration de DPOJET, nous mettons entre les mains de nos clients de puissants outils de débogage et d’analyse, afin qu’ils puissent rapidement trouver la cause première des problèmes qu’ils rencontrent et intégrer de meilleurs marges dans leurs produits. »

Conçu pour être utilisé avec les oscilloscopes Tektronix des séries MSO/DPO/70000DX/SX, l’outil Option USBSSP-TX permet d’automatiser les tests par simple pression d’un bouton et facilite le gain de temps en garantissant une configuration correcte du matériel de test. Cela permet de garantir que les tests soient menés avec précision par des personnes qui n’ont pas nécessairement une très bonne connaissance de la spécification USB. Une fois les tests terminés, un rapport d’essai détaillé avec indication des étapes réussies/des échecs met en lumière les écarts de mesure par rapport à la conformité et fournit des données sur la marge de mesure. Contrairement à d’autres solutions, les ingénieurs peuvent ré-exécuter les mesures ultérieurement (sur signaux enregistrés) pour analyser et déboguer les problèmes.

Pour une analyse plus approfondie, DPOJET offre un contrôle défini par l’utilisateur des paramètres d’analyse, ce qui permet d’accélérer le dépannage et facilite la caractérisation de la conception. Par exemple, les contours d’œil BER dans le plugin DPOJET peuvent être utilisés pour la décomposition horizontale et verticale de la gigue et du bruit pour aider les ingénieurs de conception à caractériser les appareils.

Disponibilité et prix

La solution Option USBSSP-TX de Tektronix pour USB 3.1 Gen1 et Gen 2 avec prise en charge du SigTest 4.0.23 est désormais disponible. Son prix est de EUR 16 600.

http://uk.tek.com/