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La sonde R&S RT-ZM, utilisée en association avec un oscilloscope Rohde & Schwarz, est une excellente solution pour mesurer simplement et précisément des signaux rapides. Elle propose une largeur de bande jusqu’à 9 GHz, une gamme d’offset DC de ±16 V et la fonction multimode qui permet aux utilisateurs de basculer entre les modes de test sans reconnexion.

Les mesures de signaux de données rapides, par exemple sur des interfaces USB SuperSpeed ou PCIe-2.0, nécessitent un oscilloscope pouvant enregistrer et analyser à des débits de données jusqu’à 5 Gbit/s, ainsi que des sondes appropriées. La nouvelle sonde modulaire large bande R&S RT-ZM de Rohde & Schwarz garantit qu’un contact optimal est réalisé avec le dispositif sous test. Elle propose une dynamique élevée et, en fonction de la pointe et du mode de test, une capacité d’entrée extrêmement faible de 32 femtofarad à 521 femtofarad dans la gamme des GHz. Il en résulte que le signal de test est exposé à une charge et une distorsion minimales au niveau de la pointe de la sonde. La sonde R&S RT-ZM comprend des modules amplificateurs R&S RT ZM15/30/60/90 avec des bandes passantes de 1.5 GHz à 9 GHz, plus diverses pointes et modules R&S RT-ZMA interchangeables.

Multimode : jusqu’à quatre modes de test sans reconnexion

La plus importante innovation pour les sondes large bande est la fonction Multimode. Les utilisateurs peuvent basculer entre les différents modes de test : différentiel, mode commun, à terminaison unique P et à terminaison unique N. Un contact unique sur le dispositif sous test est à cet effet suffisant pour des analyses exhaustives. Il n’y a pas besoin de réaliser un nouveau contact avec le dispositif sous test. La durée du test et le risque de contact incorrect sont réduits, fournissant des résultats de test cohérents.

Module amplificateur R&S RT-ZM avec caractéristiques DC uniques

Le module amplificateur est le coeur du système. L’utilisateur connecte le module à un oscilloscope Rohde & Schwarz via l’interface de sonde R&S. Il est adapté à une gamme de bandes passantes allant de 1.5 GHz à 9 GHz. Le facteur d’atténuation peut être paramétré à 2:1 ou 10:1 avec une gamme dynamique de ±0.5 V ou ±2.5 V. L’ASICs a développé par Rohde & Schwarz propose des caractéristiques RF exceptionnelles et une caractéristique DC unique avec une variation en température extrêmement faible. Le module propose également une large gamme d’offset DC de –16 V à +16 V, rendant possible l’analyse des détails d’un signal faible avec une résolution maximale, même à des tensions élevées.

La R&S ProbeButton est une autre fonction pratique du module amplificateur. Les utilisateurs peuvent configurer la fonction attribuée à ce bouton directement sur l’oscilloscope. Ils peuvent, par exemple, le configurer pour basculer entre les modes de test, pour démarrer et arrêter les mesures ou pour récupérer les mesures.

Mesures de précision de la tension indépendantes de l’oscilloscope

Le module amplificateur intégré R&S ProbeMeter fournit des mesures de précision de la tension indépendamment de l’oscilloscope. Les composantes DC du signal de test peuvent être déterminées en parallèle de la mesure de l’oscilloscope. Le R&S ProbeMeter est doté d’une précision de 0.05 pour cent avec une gamme dynamique de ±7 V.

Une large variété de modules de pointes R&S RT-ZMA pour des applications spécifiques Pour réaliser le contact avec le dispositif sous test, la sonde modulaire R&S RT-ZM peut être équipée de modules de pointes adaptés : modules avec pointes soudées ou connecteurs à broches, pointes à ressorts et un module SMA. La R&S RT-ZMA11, avec une gamme de température de –55 °C à +125 °C, est idéale pour les mesures dans une chambre climatique.

La R&S RT-ZM est conçue pour être utilisée avec les oscilloscopes R&S RTE et R&S RTO. Elle est disponible auprès de Rohde & Schwarz. Le système a été officiellement présenté en Europe pour la première fois à la conférence "Embedded world 2017" à Nuremberg en Mars 2017.

Les interfaces rapides de communication série telles que USB et PCIe ont trouvées leur utilité dans la conception de nombreux circuits électroniques. Lors du test et du débogage des circuits, les développeurs ont besoin d’outils simples à utiliser fournissant une compatibilité complète pour ces interfaces. La solution la plus complète et la plus compacte disponible aujourd’hui est proposée par Rohde & Schwarz et comprend les composants suivants : l’oscilloscope R&S RTO2064, les options de test pour les diverses normes d’interface et la sonde modulaire large bande R&S RT-ZM60 pour le contact avec le dispositif sous test. Rohde & Schwarz élargit son offre avec les nouvelles options de test suivantes : options logicielles de déclenchement et de décodage pour USB SuperSpeed (USB 3.1 Gen1), PCIe 1.1/2.0 et USB-PD, plus une option de test de conformité pour PCIe 1.1/2.0.

Analyse de protocoles détaillée présentée dans la pratique

Toutes les nouvelles options de déclenchement et de décodage aident les utilisateurs à visualiser les défauts qui se produisent lors des transmissions USB SuperSpeed, PCIe 2.0 et USB-PD. Les options de déclenchement sur les évènements dans le protocole définis par l’utilisateur et du décodage du protocole série transmis, permettent au R&S RTO2000 d’afficher des mesures supplémentaires dans les domaines temporel et fréquentiel corrélées à l’évènement de déclenchement de protocole. La cause d’un défaut est souvent reconnaissable d’un seul coup d’oeil. Les résultats d’analyse peuvent également être affichés dans un tableau avec tous les détails de protocole et les horodatages associés. La possibilité d’analyser à différents niveaux de protocole est une autre fonction unique. Par exemple, les utilisateurs peuvent choisir entre visualiser en simple bit ou en symbole, ou visualiser un protocole spécifique avec le démarrage de trame, l’adresse et les données, afin de suivre les erreurs de protocole pour le niveau binaire le plus bas. Dorénavant, les développeurs auront un outil puissant dédié à l’analyse rapide et au débogage.

Tests de compatibilité pour PCIe 1.1/2.0

Pour le PCIe, Rohde & Schwarz élargit sa suite de test de conformité pour inclure les tests de conformité pour le PCIe 1.1/2.0.Les options logicielles, basées sur l’analyse post-traitement de la norme PCI-SIG, evalue l’intégrité du signal par rapport à cette norme. L’option de test permet la vérification automatisée de la conformité de la couche physique jusqu’à 2.5 Gbit/s.

Les nouvelles options logicielles de test de conformité R&S RTO-K61 USB 3.1 Gen1 T&D, R&S RTO-K72 PCIe 1.1/2.0 T&D et R&S RTO-K81 PCIe 1.1/2.0 sont spécifiquement conçues pour les oscilloscopes R&S RTO2000 avec une bande passante 6 GHz. Ces options, ainsi que les options R&S RTE/RTO-K63 USB-PD T&D sont disponibles immédiatement auprès de Rohde & Schwarz. Elles seront officiellement présentées à la conférence embedded world 2017 à Nuremberg du 14 au 16 Mars 2017.

http://www.rohde-schwarz.com/