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Anritsu présente de nouveaux composants coaxiaux W1, de qualité métrologique, conçus pour offrir des performances ultra précises ainsi que la répétabilité pour les mesures très hautes fréquences. Cette nouvelle famille de composants dotée de connecteurs W1 comprend des splitters, des diviseurs de puissance, des coupleurs directionnels et des atténuateurs. Elle diminue la complexité des mesures, réduit le temps de préparation de la mesure et améliore la précision, en faisant une alternative de choix par rapport aux solutions à interface millimétrique.

Contrairement à d’autres solutions limitées en fréquence basées sur des guides d’ondes, les composants W1 ne sont pas limités en bande de fréquence et supportent une plage de fréquence allant de 0 Hz (DC) à 110 GHz. Grâce à une couverture de fréquence inégalée, plus besoin d’effectuer des mesures compliquées pour éliminer les effets de certains adaptateurs parmi les différents types d’interface coaxiale, et par conséquent, plus besoin de calibration entre le câble coaxial et le guide d’ondes. On obtient ainsi une solution qui permet un gain de temps et d’argent, tout en étant plus efficace.

Les nouveaux composants W1 d’Anritsu incluent un diviseur de puissance à trois résistances, un splitter à deux résistances et un ensemble d’atténuateurs qui offrent une couverture de fréquence allant de 0 Hz à 110 GHz, ainsi qu’un coupleur directionnel 20-110 GHz disposant de performances garanties à partir de 110 MHz . Les composants étant conçus avec des connecteurs W1 (compatibles 1,0 mm), prévus pour une évolutivité à large bande et des performances indépendantes du mode allant jusqu’à 110 GHz, la précision de la mesure est améliorée pour une meilleure caractérisation du composant sous test (DUT). Ils sont conçus pour disposer d’un excellent ROS et de faibles pertes d’insertion.

Grâce à leurs excellentes performances, les connecteurs W1 se révèlent idéaux pour un grand nombre de systèmes à hautes fréquences. Ils peuvent être utilisés pour la caractérisation et les mesures sur wafer, pour caractériser les amplificateurs et sous-ensembles des radars automobiles, ainsi que pour le calibrage et la caractérisation des instruments dans les laboratoires de métrologie.

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