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Anritsu Corporation va présenter son nouvel Analyseur de Réseau Vectoriel (VNA) dans trois Instituts & Universités en Europe cette année, et d’autres évènements suivront en 2021.

Les démonstrations en Suisse, France et Suède seront l’occasion de présenter le VNA large bande VectorStar™ ME7838G Anritsu, capable de mesurer de 70 kHz à 220 GHz en un seul balayage. Le ME7838G, associé à la station de mesure sous pointe 200mm de MPI, permet de réaliser des mesures sur wafer jusqu’aux fréquences millimétriques supérieures pour une meilleure précision dans la caractérisation des composants.

La première étape du tour est prévue en juillet et août à ETH Zurich à l’Institut des Champs Electromagnétiques (IEF) en Suisse, dont la vocation est d’étudier les caractéristiques des ondes et particules des champs électromagnétiques à toutes les fréquences.

A partir du 21 septembre, le système sera installé à l’Université Grenoble Alpes en France au sein du département Centre Inter-universitaire de MicroElectronique et Nanotechnologies (CIME Nanotech) . Puis en novembre il sera hébergé à l’université Chalmers de Technologie en Suède au sein du département Microtechnologies et Nanoscience.

Le système large bande, basé sur le VectorStar, apporte aux ingénieurs confiance dans les systèmes qu’ils conçoivent, car la caractérisation des composants du proche DC à bien au-delà des fréquences d’utilisation, permet une modélisation plus précise.

Caractéristiques et avantages de l’Anritsu VectorStar ME7838G :

 Couverture fréquentielle la plus large à 220 GHz, avec de possibles extensions jusqu’à 1,1 THz

 Elimination du processus, chronophage et source d’erreurs, de concaténation des bandes RF, Hyper et millimétrique

 Architecture modulaire qui permet d’adapter le VNA en fonction de l’évolution des besoins

 Réduit le risque d’erreur d’extrapolation des bandes de guide d’onde dans la modélisation des composants.

Avec la série VectorStar ME7838x, les ingénieurs RF et hyperfréquences disposent désormais d’un puissant outil de mesure pour analyser les performances des composants allant des transistors sur wafer aux systèmes de communication dans les applications commerciales ou de défense.

http://www.anritsu.com/