Electronique Mag - Le journal de l'électronique.
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Flux RSS . ASTER Technologies, le leader en analyse de testabilité et de couverture de test des cartes électroniques, et ITOCHU, le principal fournisseur de systèmes de test à sondes mobiles, annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d’accéder à un outil d’analyse de couverture de test.
TPQR for TAKAYA est un produit d’entrée de gamme qui permet aux utilisateurs de déterminer la couverture d’un testeur TAKAYA utilisé seul ou combiné avec d’autres équipements de test ou d’inspection.
TPQR est construit autour du noyau QuadView, visualisateur de nouvelle génération. Mettant à profit les capacités d’affichage du schéma d’implantation et du schéma électrique, il affiche à l’aide d’un code de couleur la couverture tant au niveau des composants que de leurs broches.
Cet outil importe directement le programme de test TAKAYA et calcule la couverture de test, de façon précise, détaillée et impartiale. Des rapports au format HTML et MS-Excel sont générés en s’appuyant sur les métriques internationaux comme PPVS ou PCOLA/SOQ.
Lorsque le TAKAYA est combiné avec un testeur Boundary-Scan/JTAG comme ACCULOGIC, ASSET, CORELIS, Flynn, GOEPEL, JTAG Technologies ou XJTAG, le programme de test TAKAYA est dynamiquement optimisé en éliminant les tests redondants. Le temps de test TAKAYA se voit réduit dans une proportion impressionnante allant de 30% à 80%, augmentant de façon significative le rendement de la ligne de production.
« A un moment où les clients s’attendent à acheter des “cartes bonnes uniquement”, il devient primordial d’appréhender la capacité d’un test à capturer les défauts de production. A travers le partenariat avec ITOCHU, les utilisateurs TAKAYA vont bénéficier de notre expertise en analyse de couverture de test. TPQR for TAKAYA apporte enfin une mesure impartiale, précise et détaillée » explique Christophe LOTZ, directeur d’ASTER.
