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Editions papier

N°75 - mars / avril 2010

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Adieu Forum de l’Electronique et bienvenue au CIEN.

Ce grand rendez-vous va réintégrer la Porte de Versailles les 2,3 et 4 juin prochain pour le plaisir de bon nombre d’entre vous. Il est vrai que ce lieu aux portes de Paris offre une multitude d’avantages.

Le mois de juin est une période propice aux réajustements des investissements décidés en fin d’année et place cet événement en avance de plusieurs mois sur les grands salons européens.

Notre dossier est consacré aux écoles préparant nos futurs ingénieurs électroniciens.

La dixième édition du salon de l’étudiant s’est tenue Porte de Versailles, du 12 au 14 mars, avec plus de 50 000 m² d’exposition, 50 conférences et 600 exposants. Nous avons souhaité vous faire partager les informations délivrées par quelques uns des établissements dont la spécialité est l’électronique.

Vous souhaitant bonne lecture.

Alain Milard

 

Nouveaux produits

- Le système d’interconnexion cuivre et fibre optique iPass+ HSC CXP de Molex
- Pickering Interfaces Introduit une Nouvelle Matrice LXI Haute Tension
- Sierra Wireless présente la plus grande gamme de modules embarqués du marché
- Murata introduit des thermistances CMS tolérance ultra serrée de± 0.5%
- Le gyroscope numérique tri-axial de STMicroelectronics
- Le nouveau contrôleur « vert » déphasé en pont complet de TI
- Intel ATOM et FPGA sur une même carte CompactPCI 3U
- StanTronic Instruments étend sa gamme de ponts d’impédance de GWInstek
- Les connecteurs circulaires plastiques APD d’ITT Interconnect Solutions
- Essais de fatigue : nouvelles jauges optiques K-OP de HBM

Actualités des entreprises

- Le groupe RS Components lance, en avant-première en France, une application iPhone
- Mentor Graphics facilite le développement de produits Android
- HBM fête ses 60 ans
- DiBcom lance une solution pour la TNT mobile en Amérique Latine
- ACISTEC : un pôle multiservice en électronique

imaps-France infos n° 37

Dossiers

- L’ ECE Paris
- L’ ENSEA
- Groupe ESEO
- L’ ESIEA
- L’ ESIGELEC
- L’ESME SUDRIA
- PHELMA

Techniques et applications

- Des normes internationales pour les tests en nanotechnologie
- Contraintes et solutions packaging pour l’électronique de puissance haute température
- Un management thermique exigeant pour les LEDs
- La perspicacité d´AOI

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