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JTAG Technologies, fournisseur de produits JTAG/boundary-scan pour le test et le débogage des cartes électroniques, présentera, entre autres nouveautés, ses développements logiciels et matériels.

Le test analogique facilité : module d’E/S JT 2149/DAF pour mesures numériques et analogiques Nouveau module compact de mesure de signaux mixtes (numériques/analogiques/fréquence), le JT 2149/DAF est le premier du genre à offrir un accès pour le test à la fois numérique et analogique des cartes via l‘interface QuadPod de JTAG Technologies, largement utilisée pour le conditionnement du signal. Le module JT 2149/DAF est conçu pour s’installer dans l’émetteur/récepteur QuadPod™ standard de JTAG Technologies, utilisé par les célèbres contrôleurs matériels boundary-scan/JTAG de la série DataBlaster. Connecté à une carte via un connecteur de bord ou des broches d’interface de test, le module complète les tests boundary-scan numériques habituels en permettant de réaliser une série de mesures analogiques et de fréquence.

Le module JT 2149/DAF comprend 16 broches numériques à double fonction : d’une part stimulation et réponse sur les entrées-sorties numériques à des tensions de 1,0 à 3.6V ; d’autre part, mesures de fréquence jusqu’à 128 MHz sur une broche quelconque. 12 canaux supplémentaires de mesure analogique peuvent capturer des valeurs de 0 à 33 V avec une résolution inférieure à 10 mV. Un autre canal peut servir de générateur d’horloge, programmable jusqu’à 64 MHz.

Peter van den Eijnden, directeur général de JTAG Technologies, voit les avantages suivants dans l’utilisation du nouveau module : celui-ci regroupe de multiples fonctionnalités dans un format très compact, idéal pour les concepteurs de systèmes désireux d’ajouter des capacités analogiques dans un système de test JTAG/boundary-scan. Assez souvent, les ingénieurs de test souhaitent contrôler certains éléments fondamentaux des circuits, tels que les rampes de tension ou les fréquences d’horloge, avant d’entreprendre des tests structurels et fonctionnels boundary-scan plus poussés. Le JT 2149/DAF, parfait pour cette application, évite au concepteur du système d’avoir à employer un équipement de test supplémentaire. Il peut être commandé via un panneau interactif (instrument virtuel) dans JTAG ProVision, ainsi que par le biais de scripts Python™. Une API Python complète est incorporée dans les versions actuelles du logiciel ProVision de JTAG Technologies.

Nouveau contrôleur boundary-scan Express Le dernier-né dans notre famille de contrôleurs hautes performances boundary-scan IEEE 1149.1 sera également mis en vedette sur le salon. Le DataBlaster JT 37x7/PXIe prend en charge le format PXIe (Compact PCI-express), de plus en plus répandu sur certains des plus récents équipements de test aux normes PXI(e).

Nous avons conçu ce nouveau contrôleur boundary-scan pour répondre aux besoins croissants de systèmes de programmation in-situ à haut débit pour les mémoires flash, les mémoires série et les CPLD, ainsi que pour le test des circuits numériques complexes. Le DataBlaster JT 37x7/PXIe offre des fréquences d’horloge de test soutenues jusqu’à 40MHz grâce au système propriétaire ETT™ (Enhanced Throughput Technology) de JTAG Technologies et intègre une mémoire tampon d’image flash.

Avec le système complémentaire QuadPOD™, le nouveau DataBlaster/PXIe dispose de quatre ports TAP (Test Access Port) synchronisés, capables de prendre en charge les cibles de test multi-TAP ou la programmation en mode « gang » de quatre cibles TAP distinctes. QuadPOD™ peut en outre accueillir la gamme complète de modules SCIL de JTAG Technologies, ce qui permet de mettre en œuvre des interfaces de test personnalisées (BDM, I2C, etc.) ou le module de mesure de signaux mixtes DAF (Digital, Analog Frequency).