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Keithley Instruments, Inc., un leader mondial dans le domaine de l’instrumentation et des systèmes de test électrique, annonce de nouvelles améliorations apportées à son logiciel ACS (Automated Characterization Suite), supportant maintenant nos solutions de caractérisation de semi-conducteurs de forte puissance. Le logiciel ACS est principalement utilisé pour des applications automatisées de tests paramétriques au niveau wafer, incluant notamment l’automatisation de la caractérisation, l’analyse de fiabilité et les tests complets des chips avant mise en boitier. La mise à jour ACS V5.0 mise à jour s’appuie en particulier sur les nouvelles fonctionnalités forte puissance des SourceMeters modèle 2651A (fort courant) et modèle 2657A (forte tension) pour permettre le test automatisé au niveau wafer de composants forte puissance comme les MOSFET de puissance, les IGBT, les BJT, les diodes, etc. Pour en savoir plus, veuillez visiter http://www.keithley.com/products/se....

Keithley a intégré de nouvelles améliorations dans son logiciel ACS V5.0 :

 Des bibliothèques de composants forte puissance à utiliser avec les SourceMeters 2651A (jusqu’à 50A ou 100A avec la mise en parallèle de deux modèles) et 2657A (jusqu’à 3 000V) qui, pour caractériser des composants de puissance multi-pins, peuvent être utiliser avec les SourceMeters de la série 2600B ou l’analyseur de paramètres 4200-SCS pour accélérer et simplifier la création de modules et de séquences de tests de composants semi-conducteurs de puissance tels que les MOSFET de puissance, les IGBT, les BJT, les diodes, etc.

 Support et configuration des modèles fortes puissances 2651A et 2657A afin de permettre aux utilisateurs de connecter rapidement ces instruments à un PC, de confirmer la connectivité et de démarrer les tests.

 Support des instruments de la série 2600 équipés du bus de communication TSP-Link®, s’appuyant sur la technologie de processeur de script de test embarqué (TSP®) pour un environnement multiprocesseurs qui garantit une meilleur débit en utilisation parallèle, tout en accélérant et en simplifiant le développement de projets de test.

 Exemples de projets de tests de fiabilité au niveau Wafer en forte tension (WLR) qui s’appuient sur la large gamme de modules de test de fiabilité en faible puissance déjà disponibles dans les précédentes versions du logiciel ACS, offrant ainsi aux utilisateurs un excellent point de départ pour créer ou modifier rapidement de nouveaux tests.

 Supporte les mesures C-V avec polarisation ±200V en utilisant le package C-V du modèle 4200-CVU-PWR de l’analyseur de paramètres modèle 4200-SCS pour offrir une large gamme de fonctionnalités de mesure I-V et C-V pour une caractérisation complète des composants de puissance des semi-conducteurs.

Autour du logiciel ACS

ACS contrôle plusieurs instruments dans un seul environnement de test, optimisé pour garantir flexibilité, rapidité et productivité dans le test et l’analyse. Une interface graphique intuitive simplifie la configuration des instruments, la définition des paramètres de mesure, l’exécution de mesures I-V et l’affichage des résultats. Les utilisateurs peuvent aller de la création d’une nouvelle configuration de test à la caractérisation de nouveaux composants en moins de temps que le temps nécessaire aux précédents environnements de développement de test. Tout aussi important : ACS dispose de tous les outils nécessaires pour configurer les tests, analyser les données et exporter les résultats - sans jamais avoir à quitter l’environnement ACS. Le logiciel ACS supporte les probers semi-automatiques et automatiques ; Keithley propose également le logiciel ACS Basic Edition pour la caractérisation de composants à semi-conducteurs en utilisant des probers manuels ou des boitiers de test.