Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

National Instruments annonce NI VeriStand 2013, la toute dernière version de son environnement logiciel configuratif dotée d’une interface ouverte et intuitive pour le développement des applications de test temps réel. Le logiciel NI VeriStand offre un seul et même environnement de test capable de couvrir l’ensemble du processus de développement logiciel embarqué grâce à la réutilisation des composantes de test garantissant la cohérence entre chaque phase. La version 2013 du logiciel assure l’intégration directe avec le logiciel de gestion de données NI DIAdem, offrant ainsi un post-traitement et une génération de rapports automatiques. Les ingénieurs peuvent configurer les scripts d’automatisation et gérer des modèles de rapports dans DIAdem. Les opérateurs, quant à eux, peuvent aisément enregistrer des données, effectuer du post-traitement et générer des rapports en un seul clic pour un processus de test haute qualité.

“National Instruments est soucieux de fournir des outils qui couvrent véritablement l’ensemble des applications de test temps réel, du test de logiciel embarqué jusqu’au contrôle en boucle fermée de systèmes mécaniques,” souligne Ian Fountain, responsable NI du test temps réel. “L’association de NI VeriStand et de DIAdem améliore considérablement l’analyse et la gestion des données pour ces applications, réduisant ainsi les temps de test tout en améliorant la qualité générale du test.”

NI VeriStand 2013 offre un large éventail de nouvelles caractéristiques et d’améliorations des performances, notamment :

 la réduction des temps de déploiement et l’accélération des vitesses d’exécution temps réel
 l’amélioration de l’intégration des modèles de simulation (support de modèles actualisé et calibrage de modèles rationalisé)
 un Toolkit LabVIEW Model Interface efficace qui intègre des modèles avec le logiciel NI LabVIEW
 une configuration plus facile pour les bus de communications automobiles

Pour en savoir plus et visionner une démo de NI VeriStand 2013, rendez-vous sur http://www.ni.com/white-paper/14830/en