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Techniques

Altium Designer accélère le passage à la conception ‘high performance’ chez Spectrum Integrity

« Nous pouvons à présent utiliser un outil généraliste pour nos travaux de conception ‘high performance’ ; nous sommes en outre en mesure de le personnaliser de manière à ne pas limiter notre créativité. » Michael Ingham, Directeur Technique, Spectrum Integrity...

 
Publication: Avril 2012

Modus – UV : Une solution brillante

Le Contrôle UV à l’aide de l’AOI : fiable tout en optimisant le processus...

 
Publication: Avril 2012

Mesurer les performances d’un réseau de périphériques « cloud »

Par Cary Stronach, Directeur de la gestion des produits iDigi, Digi International...

 
Publication: Mars 2012

Kontron définit un nouveau standard de Computer-on-Module créant des solutions de basse puissance, évolutives et prêtes à l’emploi

ADLINK supporte d’emblée le nouveau standard de modules COM, dédié aux processeurs ARM et SoC...

 
Publication: Mars 2012

Le test à sondes mobiles par SEICA dépasse ses propres limites

Double rendement, réduction de la marge d’erreur et diminution des coûts par l’automatisation : aujourd’hui cela est possible simplement avec le système de test de sonde mobile : Pilot V8...

 
Publication: Mars 2012

Problèmes de test affectant le déploiement de la LTE

Le marché mondial de l’infrastructure de communication mobile LTE sera de plus de 11 milliards de dollars d’ici 2014...

 
Publication: Janvier 2012

Lancement d’un module développé par HID Global et Sony pour la lecture des cartes à puce sans contact NFC

L’expertise de HID Global en matière de contrôle d’accès sécurisé et la technologie FeliCa de Sony convertissent les appareils mobiles aux applications NFC...

 
Publication: Janvier 2012

Pérennité et performance : l’architecture AMD Fusion au cœur des modules ETX et XTX de Congatec

pour les applications embarquées non ventilées...

 
Publication: Septembre 2011

Comment mettre en place un réseau Wi-Fi efficace ?

Un réseau local sans fil...

 
Publication: Septembre 2011

La clé de la gestion de données de prochaine génération se trouve dans le « vault »

L’effort de créativité investi dans chaque nouvelle conception électronique...

 
Publication: Août 2011

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