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Keithley Instruments, l’un des leaders mondiaux pour les instruments de test électriques avancés et les systèmes de mesure annonce le seul test industriel câblé capable de gérer les signaux I-V, C-V et I-V en impulsions avec un seul ensemble de câbles (brevet en cours). Les nouveaux kits de câblage sont basés sur une conception brevetée qui accélère la réalisation des connexions nécessaires pour les trois types de tests DC en tension-courant (I-V), capacité-tension (C-V) et I-V par impulsions avec n’importe quel analyseur moderne capable d’analyser les paramètres des semi-conducteurs à partir de sondes Cascade Microtech ou SUSS Microtec. Les câbles sont étudiés pour être compatibles avec le système de caractérisation des semi-conducteurs, modèle 4200-SCS ainsi qu’avec d’autres instruments de test utilisés pour la caractérisation.

La conception de ce câble triaxial de hautes performances s’adresse plus particulièrement aux clients dont les conditions de caractérisation exigent de fréquents changements entre les différents types de mesures. Ce nouveau kit de câbles évite d’avoir à refaire le câblage lorsque l’on change de type de mesure ; il élimine aussi les erreurs dues à un câblage incorrect. Il existe deux versions de kit : l’une est prévue pour les sondes Cascade Microtech et l’autre pour les SUSS Microtec.

La caractérisation électrique des semi-conducteurs et la compréhension des processus utilisés au cours de leur production exige une grande variété de mesures telles que les DC I-V, C-V et les I-V par impulsions. L’une des problématiques les plus significatives, relatives à ces types de mesures réunies en un seul système de caractérisation est que chacune d’elle nécessite des câblages fondamentalement différents. Par exemple, des mesures I-V de courants bas niveau nécessitent des blindages, par conséquent, des câbles triaxiaux. Les mesures C-V sont habituellement effectuées avec quatre câbles coaxiaux avec leurs extrémités interconnectées afin de contrôler l’impédance caractéristique rencontrée par ces signaux. Les mesures par impulsions demandent une bande passante la plus élevée par rapport aux autres types de mesure, ainsi l’impédance caractéristique du câblage doit satisfaire l’impédance de la source afin d’empêcher le DUT de renvoyer des réflexions à celle-ci.

Les nouveaux kits de câblage de Keithley ont été étudiés dans le but de répondre à ces différentes conditions. Quel que soit le type de mesure effectué, il n’a plus alors aucune manipulation à faire car aucun changement n’est nécessaire au niveau des sondes ; les câbles peuvent être simplement déplacés d’un groupe d’instruments à un autre, ce qui facilite la commutation entre les trois types de mesures d’où une simplification notable du processus de caractérisation. De plus, il est possible de faire des modifications de paramétrage alors que les aiguilles des sondes sont en contact avec le chip ce qui réduit d’autant les risques de détériorations et conserve la même impédance de contact pour les trois types de mesures.

Les améliorations futures du système assurent un accroissement de productivité continu

Le modèle 4200-SCS de Keithley remplace un certain nombre d’outils de test électriques par une seule solution de caractérisation étroitement intégrée ; elle constitue la solution idéale pour une grande diversité d’applications qui se rapportent au développement de la technologie des semi-conducteurs, au développement de processus et à la recherche sur les matériaux. Elle est utilisée dans les labos d’étude de fiabilité, les labos de recherche sur les matériaux et les composants aussi bien que dans les labos dont la portabilité de l’instrument est une nécessité en DC ou par impulsions. Keithley a continuellement apporté des améliorations au modèle 4200-SCS tant sur le plan du logiciel que sur le hardware depuis sa commercialisation. Cet engagement sur les innovations et le futur de ce système assure son maintien au top niveau et à moindre coût. De cette façon, l’utilisateur n’a pas à racheter de nouveau système d’analyse paramétrique en raison de l’obsolescence de l’ancien. Avec cette politique, les systèmes peuvent être améliorés à moindre prix pour répondre aux exigences évolutives des tests industriels. Le résultat est que l’investissement sur ce modèle 4200-SCS s’adapte mieux au futur que la plupart des autres solutions de test proposées par la concurrence.

Keithley Instruments est un leader pour la caractérisation des semi-conducteurs et le test paramétrique ; il offre à ses clients du monde entier une large étendue de solutions souples pour les mesures et les trois types d’analyse : I-V (courant-tension), C-V (capacité-tension) et I-V (courant-tension par impulsions). La gamme de ces produits s’étend des instruments portables aux systèmes clé-en-main et sont utilisés dans des applications aussi différentes que l’analyse des matériaux, la caractérisation des composants, le niveau de fiabilité des chips et le processus de contrôle de surveillance. Keithley travaille étroitement avec ses clients fabricants de semi-conducteurs dans le monde entier à travers son réseau d’agences d’assistance technique sur le terrain et les ingénieurs d’application ayant une expertise spécifique dans le domaine de la technologie des semi-conducteurs.

Disponibilité

Les deux versions du kit de câblage sont disponibles dès maintenant. Ce sont : le modèle 4210-MMPC-C pour les sondes Cascade Microtech et le modèle 4210-MMPC-S pour les sondes SUSS MicroTec. Pour plus d’informations sur les nouveaux kits de câblage I-V, C-V et I-V par impulsions ou toute autre solution de test des semi-conducteurs, allez sur notre site : http://www.keithley.com/products/se...

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