Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

A l’occasion du salon APEX 2010, ASTER Technologies, le leader en analyse de testabilité et de couverture de test des cartes électroniques, présente le premier logiciel Design for Test (DfT) qui combine l’analyse électrique et mécanique. Il a été développé pour répondre à une nouvelle vision du marché. Les concepteurs de cartes électroniques et les sous-traitants de fabrication doivent, ensemble, relever de nombreux défis : compression des cycles de développement, réduction des budgets et amélioration constante de la qualité des produits.

TestWay, la référence mondiale en analyse de couverture de test, permet à ses utilisateurs de quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux équipements de test et d’inspection. Cet outil a été refondu pour aborder les problèmes que rencontrent les concepteurs et les sous-traitants en fabrication qui souhaitent optimiser les accès physiques pour le test, tout en maintenant une couverture de test maximale.

“Probe Analyzer” est un logiciel interactif, piloté par règles d’analyse mécanique spécifiquement conçues pour assister les ingénieurs de conception et les développeurs de test. Il identifie rapidement les surfaces de cuivre utilisables comme accès physiques. Taille des surfaces ciblées, contrôle des distances, assignation des points de test, optimisation de la taille des clous, offset sur les broches, BeadProbes de Agilent sont supportés en parfaite harmonie avec les règles internes des industriels.

Dès que le placement des points de test a été réalisé, TestWay combine cette information avec les capacités de mesure de l’équipement ciblé, pour estimer la couverture pour le test ICT ou FPT. TestWay génère un rapport détaillé d’accessibilité physique précisant la position du point de test retenue, ou les violations des règles interdisant l’utilisation de certains points. Le rapport est interactif avec le visualisateur de layout qui présente, sous forme de code de couleur, les équipotentielles non testables.

TestWay procède à une analyse de couverture de test très sophistiqué qui permet de décrire la ligne de production en combinant les tests ICT (In-Circuit Test) ou FPT (Flying Probe Test) avec des techniques d’inspection ou de test telle que AOI (Automated Optical Inspection), AXI (Automated X-Ray Inspection), BST (Boundary-Scan Test) ou test fonctionnel.

Il estime la couverture avant le développement des tests en identifiant les zones où l’efficacité est limitée compte-tenu de la violation de règles DfT électriques.

L’estimation de la couverture basée sur l’analyse des contraintes mécaniques de positionnement des points de test, accroît la visibilité sur la performance réelle des tests qui pourront être développés.

“Dans le monde nouveau de l’électronique où ceux qui conçoivent ne sont plus ceux qui produisent, nous avons besoin de nouveaux outils qui facilitent la compréhension des deux groupes. Avec TestWay Probe Analyzer, les concepteurs de cartes et les développeurs de tests pourront identifier en quelques minutes les contraintes d’accès physiques et mesurer immédiatement les conséquences en terme de couverture de test.” explique Christophe Lotz, Directeur d’ASTER.

ASTER propose une large gamme de produits couvrant l’analyse DfT et la couverture de test. Le client peut démarrer avec une configuration qui répond à ces problèmes immédiats et pourra ultérieurement évoluer vers des fonctions plus sophistiquées. TestWay est un produit hautement configurable depuis TestWay Express pour l’analyse de couverture théorique (a priori) ou réelle (a posteriori à partir des programmes de test), jusqu’à la version TestWay-Classic qui ajoute un environnement programmable en mesure de supporter les règles “utilisateur”, les critères d’optimisation des programmes de test, le reporting avancé et la génération des données pour les testeurs Boundary-Scan.

http://www.aster-technologies.com