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Cette méthode ouverte basée plate-forme combine l’instrumentation modulaire et le logiciel de conception graphique de systèmes pour les tests en production à signaux mixtes et RF.

NI, fournisseur de solutions permettant aux ingénieurs et aux scientifiques de relever les plus grands défis techniques de notre temps, annonce aujourd’hui le lancement de la nouvelle série de systèmes de test de semi-conducteurs (STS). Ces derniers permettent de réduire le coût des matériels à signaux mixtes et RF en introduisant des modules PXI de NI et de tiers dans les environnements de test en production de semi-conducteurs.

Contrairement aux utilisateurs d’équipements de test automatique conventionnels, ceux qui emploient les STS ont constaté une diminution de leurs coûts de production et une augmentation de leur rendement. La possibilité d’effectuer les opérations de caractérisation et de production en utilisant les mêmes matériels et logiciels participe à la réduction du temps nécessaire à la coordination des données et à la mise sur le marché.

« Avec l’augmentation exponentielle de la complexité des circuits intégrés, il devient indispensable de disposer d’équipements de test automatique économiques capables de fournir une couverture de tests optimale pour les applications – de la vérification de conception aux tests en fin de production. », affirme Dr. Hans-Peter Kreuter, Senior Design and Application Engineer dans le domaine automobile chez Infineon Technologies. « En ce qui concerne les tests à signaux mixtes, les performances des STS sur PXI dépassent largement celles des équipements de test automatique traditionnels. Ils garantissent une couverture de tests optimale à un coût minime. »

Avec leur architecture ouverte et modulaire, les STS permettent aux ingénieurs d’utiliser une instrumentation PXI de pointe, contrairement aux équipements de test automatique traditionnels et à leur architecture fermée. Cette caractéristique est particulièrement utile dans le cadre de tests à signaux mixtes et RF, puisque les spécifications des dernières technologies de semi-conducteurs évoluent plus rapidement que la couverture de tests qu’effectuent les équipements de test automatique traditionnels.

Pilotés par les logiciels de gestion de tests TestStand et de conception graphique de systèmes LabVIEW, les STS s’accompagnent de nombreuses fonctionnalités utiles dans les environnements de production de semi-conducteurs, dont une interface opérateur personnalisable, l’intégration d’automates programmables ou de machines de test sous pointes, la programmation centrée sur le périphérique avec un mappage du brochage des voies, le rapport de format de données de test et le support multi-sites intégré.

Ces fonctionnalités permettent aux ingénieurs de développer, de mettre au point et de déployer des programmes de test rapidement, réduisant de ce fait le temps de mise sur le marché. Livrés avec une tête de contrôle à encombrement nul entièrement encloisonnée, des mécanismes d’interfaçage et d’ancrage standard, les STS sont prêts à être intégrés dans une cellule de test en production de semi-conducteurs.

« Les systèmes de test automatique traditionnels imposent d’engager des frais considérables pour renouveler le matériel de test au fur et à mesure que les systèmes deviennent obsolètes ou incapables de répondre aux besoins les plus récents, mais l’architecture des STS nous permet de conserver nos investissements d’origine et d’en tirer parti. », explique Glen Peer, Director of Test for Integrated Device Technology (IDT). « Ils offrent la souplesse dont nous avons besoin pour reconfigurer et développer nos plates-formes de test en même temps que nos besoins en matière de performances évoluent. »

La série de STS inclut trois différents modèles nommés T1, T2 et T4, capables de recevoir respectivement un, deux et quatre châssis PXI. Avec leurs dimensions variées, un logiciel commun, des instruments et des mécanismes d’interconnexion entre tous les modèles de STS, ces derniers donnent aux ingénieurs tous les moyens d’optimiser un vaste éventail de spécifications relatives au nombre de broches, entre autres.

De plus, l’évolutivité des STS facilite leur déploiement – de la phase de caractérisation jusqu’à à la production –, et garantit non seulement des coûts avantageux, mais également une coordination des données grandement simplifiée, ce qui réduit d’autant plus le temps de mise sur le marché.

NI tient à la réussite de sa clientèle et propose à ce titre des formations, des produits et des services supportés par les ingénieurs NI ainsi que par les partenaires NI Alliance partout dans le monde.

N’hésitez pas à contacter votre ingénieur commercial local si vous souhaitez obtenir de l’aide pour configurer votre système.

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