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Dossiers

TERADYNE conserve son avance technologique dans le domaine du test in-situ lit à clous.

TERADYNE investi chaque année entre 15 et 20% de son chiffre d’affaires pour développer de nouveaux testeurs...

 
Publication: Mai 2010

Zuken des performances découlant de vastes mesures fondées sur des stratégies et les perspectives à long terme

Solutions logicielles pour la conception de circuits imprimés...

 
Publication: Mai 2010

TAKAYA : un nom, une référence en termes de test IN SITU depuis 1987.

L’inventeur du concept qui permet de s’affranchir d’un lit à clous pour tester une carte électriquement à la façon In Situ...

 
Publication: Mai 2010

SPEA, plus de 30 ans de solutions de test pour l’industrie électronique mondiale

SPEA développe et construit des testeurs automatiques de semiconducteurs et de cartes électroniques...

 
Publication: Avril 2010

SEICA France, un soustraitant de Test IN SITU

Par Stéphane DUPOUX, Directeur Seica France

Des délais rapides et des prix très compétitifs...

 
Publication: Avril 2010

Test de cartes : Le test In-Situ sera-t-il encore longtemps l’étape de référence de la stratégie de test ?

Le test In-Situ était l’étape de référence autour de laquelle s’organisait la stratégie de test...

 
Publication: Avril 2010

Aeroflex pionnier du test IN-SITU.

L’expertise, l’expérience et toujours l’innovation...

 
Publication: Avril 2010

Seica, concepteur italien de solutions de test pour l’industrie électronique depuis plus de 20 ans

Par Stéphane DUPOUX, Directeur Seica France

La gamme se compose essentiellement de 2 testeurs à sondes mobiles "double-face" : l’AERIAL M4 et le nouveau PILOT V8...

 
Publication: Janvier 2010

Les dernières nouveautés sont désormais intégrées dans Altium Designer

Par Rob Irwin, Altium Ltd

Le choix des outils, il est possible de procéder différemment...

 
Publication: Janvier 2010

Les concepteurs analogiques utilisent avec succès la solution AMS Designer

Pour appliquer des stimuli de vérification mixtes sur des cellules ou des sous-systèmes, tant au niveau transistor que sur des vues AMS comportementales...

 
Publication: Janvier 2010

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