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NI, fournisseur de systèmes sous forme de plate-forme permettant aux ingénieurs et aux scientifiques de relever les grands défis techniques de notre temps, annonce aujourd’hui le lancement de son nouvel oscilloscope PXIe-5164. Reposant sur l’architecture ouverte et modulaire PXI, le PXIe-5164 intègre un FPGA programmable par l’utilisateur pour répondre aux besoins des applications dans les secteurs aérospatiale et défense, du semi-conducteur ou encore de la recherche en physique, qui nécessitent des mesures de hautes tensions et de grande précision.

« Les oscilloscopes NI au format PXI permettent de diminuer les temps de test, d’augmenter la densité de voies, et garantissent à présent une plus grande souplesse de mesure en associant une large bande passante, une haute résolution et une gamme de tensions élevée », explique Steve Warntjes, Vice-président de la R&D chez NI. « Les capacités de mesure de notre nouvel oscilloscope PXIe-5164 dépassent largement celles de n’importe quel instrument traditionnel actuellement disponible. Si vous devez mesurer un signal haute tension jusqu’à 100 Vpp à 1 Géch./s maximum, le convertisseur A/N 14 bits permet maintenant d’utiliser le même instrument pour visualiser de petits détails généralement masqués par le bruit de l’instrument. »

Le PXIe-5164 intègre :

 Deux voies échantillonnées à 1 Géch./s sur une bande passante de 400 MHz avec une résolution de 14 bits ;

 Deux voies CAT II avec une gamme de tension en entrée maximale de 100 Vpp et des offsets programmables permettant d’effectuer des mesures jusqu’à ± 250 V ;

 Jusqu’à 34 voies dans un seul châssis PXI pour concevoir des systèmes parallèles à grand nombre de voies dans un facteur de forme compact :

 Un flux de données de 3,5 Go/s supporté via 8 voies de communication de bus PCI Express Gen 2 :

 Un FPGA Xilinx Kintex-7 410 permettant de développer des IP personnalisées en LabVIEW, notamment de filtrage et de déclenchement.

Les oscilloscopes au format PXI sont aussi simples à utiliser que les oscilloscopes traditionnels. Les ingénieurs peuvent exploiter les faces-avant interactives du driver NI-SCOPE pour effectuer des mesures basiques, mettre au point des applications automatiques ou visualiser des données provenant d’oscilloscopes pendant l’exécution d’un programme de test. Le driver inclut des fichiers d’aide, de la documentation et des exemples de programmes prêts à l’emploi pour faciliter le développement de code de test, et comprend une interface de programmation compatible avec de nombreux environnements de développement tels que le logiciel de conception de systèmes LabVIEW, Microsoft .NET ou en C. Les ingénieurs peuvent également associer les oscilloscopes PXI au séquenceur de tests TestStand, qui simplifie la création et le déploiement de systèmes de test en laboratoire ou en atelier de production.

Instruments-clés dans le développement de systèmes de test intelligents, les oscilloscopes PXI occupent une place importante au sein de l’écosystème et de la plate-forme NI. Ces systèmes de test peuvent bénéficier de plus de 600 produits au format PXI, du continu aux ondes millimétriques, avec des débits de données élevés supportés par les interfaces de bus PCI Express, une précision de synchronisation inférieure à la nanoseconde et des capacités de cadencement et de déclenchement intégrées. Portée par un écosystème vivant et dynamique de partenaires, d’IP complémentaires et d’ingénieurs, la plate-forme NI permet de réduire significativement le coût des test, d’écourter les délais de mise sur le marché et d’assurer la durabilité des testeurs pour répondre aux futures exigences de test.

Consultez cet article technique pour en savoir plus sur la réduction du coût des tests et le développement de systèmes plus intelligents avec les oscilloscopes PXI.

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