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Texas Instruments présente le premier kit d’évaluation complet des systèmes de convertisseurs de données très rapides (HSDC-SEK), réduisant considérablement le coût de l’évaluation des systèmes et permettant aux concepteurs de faire fonctionner leur système en quelques minutes. Le HSDC-SEK-10 comprend une carte de capture de trames, une carte de générateur de trame, une source d’horloge à faible gigue, une source de signal 10 MHz propre et une alimentation régulée à sorties multiples. Pour plus d’informations et pour acheter le kit, rendez-vous sur www.ti.com/hsdc-sek-10-pr-eu

Le HSCD-SEK-10 réduit considérablement le temps d’évaluation et les coûts pour un large éventail d’applications exigeantes et notamment pour les convertisseurs de données très rapides tels que le convertisseur analogique-numérique (CAN) ADS4249, 250 Méch./s, double, 14 bits et le convertisseur analogique-numérique (CAN) DAC34SH84, 1,5 GSPS, quadruple, 16 bits, qui sont des éléments clés des performances système. Les exemples comprennent les secteurs des tests et mesures, des communications, de la défense et des appareils médicaux.

Caractéristiques principales et avantages du HSDC-SEK-10

 Réduit significativement les coûts d’évaluation : L’évaluation des CAN et CNA est coûteuse. Les coûts des équipements pour les laboratoires peuvent dépasser les 20 000 $. Le HSDC-SEK-10, dont le coût est faible, supprime cet investissement pour les évaluations de base.

 Permet une évaluation rapide : Les systèmes peuvent être opérationnels en 30 minutes seulement.

 Offre une solution complète pour l’alimentation, l’horloge et l’évaluation des données. Les composants système clés comprennent les éléments suivants :

 Le TSW4806EVM est équipé du générateur et du circuit conditionneur d’horloge double PLL LMK04806. Il fournit une solution d’horloge portable complète, à faible coût et à bas bruit.

 La carte de capture de trames TSW1405EVM qui prend en charge la plupart des formats LVDS des CAN et modules d’évaluation (EVM) de TI avec un tampon de capture de 64 K d’échantillons.

 La carte du générateur de trames TSW1406EVM qui prend en charge la génération de trames pour la plupart des formats LVDS des CAN et modules d’évaluation (EVM) de TI avec une taille de trame pouvant atteindre jusqu’à 64 K d’échantillons.

 LeTSW2200EVM fournit une alimentation à faible bruit aux modules d’évaluations. Le TSW2110EVM fournit une sortie analogique propre de 10 MHz pour le CAN.

 Analyse FFT ou génération de trames rapide : L’interface utilisateur graphique (IUG) pro du convertisseur de données grande vitesse permet une analyse FFT ou des capacités de génération de trames rapides