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LeCroy Corporation, un des leaders en analyse de données série, annonce un nouvel oscilloscope 13GHz pour analyser les formats série les plus récents. Composé d’un analyseur série SDA13000, d’une sonde différentielle active D13000PS, et d’une suite d’outils d’analyse novateurs, le système LeCroy va au-delà des tests de conformité et propose la méthode la plus puissante pour la conception et la mise au point de bus série de nouvelle génération. Avec une bande passante de 13 GHz, une vitesse d’échantillonnage de 40 GEch,s et une mémoire de 100 Mpts/voie, le SDA13000 vient à bout des problèmes de développement de couche physique les plus complexes et offre une solution parfaite pour le test de conformité des normes de donnes série de nouvelle génération.

“Les ingénieurs travaillant sur des technologies de pointe ou de deuxième génération ont besoin de solutionner rapidement des challenges nouveaux,” nous dit Bill Driver, Product Marketing Manager, “ la solution LeCroy est l’outil parfait pour garantir la conformité et l’interopérabilité, et offre même la possibilité d’identifier rapidement tout écart par rapport aux spécifications.”

Outils innovants pour la mise au point et le test de conformité sur données série Le SDA13000 et la D13000PS permet le test de conformité et la mise au point des données série de nouvelle génération comme les mémoires et le stockage. L’industrie informatique est le vecteur principal de la nécessité d’accès mémoire toujours plus rapide, de disque dur plus rapide, et de liens aussi toujours plus rapides entre les deux. Les technologies DDR II et FB-DIMM autorisent aujourd’hui des transferts jusqu’à 800MB/s. Les technologies SAS II, SATA II, et Fibre Channel ont permis d’augmenter les capacités de stockage sur disque dur. La technologie émergente la plus récente est PCI Express Gen2 qui permet des interconnexions haute vitesse entre le CPU et ses périphériques. PCI-Express Gen 2 est principalement utilisé dans les serveurs, les stations de travail, et les PCs de bureau ou portables. LeCroy a développé le test de conformité et de debug de façon à être configuré très facilement et pour pouvoir utiliser une pll intégrée spéciale pour PCI-Express, FB DIMM, et Fibre Channel. Les outils de debug comprennent la localisation des erreurs dans le diagramme de l’oeil et la visualisation des ISI (Inter-symbol Interference) de façon à comprendre quel bit ou quelle combinaison de bits contribue le plus aux erreurs détectées. D’autres outils comprennent la décomposition de PJ (periodic jitter) afin d’aider l’ingénieur à mieux comprendre quelle fréquence peut être à l’origine de la gigue observée. Des fonctions telles que Eye Doctor, WaveScan et le décodage 8b/10b étendent encore davantage les possibilités de l’analyseur.

Q-Scale – Une meilleure visualisation de la gigue L’analyse Q-Scale avec vue en tracé, une innovation qui fournit beaucoup plus de renseignements internes sur la gigue que toute autre méthode. En premier lieu, à la place d’une gigue aléatoire de la méthode traditionnelle, l’analyseur Q-Scale emploie une méthode différente qui décompose les composantes de la gigue en les identifiant précisément. De plus, cette méthode est encore affinée par l’extrapolation des parties finales de l’histogramme de la gigue, améliorant la précision, la stabilité et le temps de convergence. Le tracé Q-Scale fournit une représentation visuelle de la décomposition de la gigue, qui est une présentation beaucoup plus intuitive de la nature de ses composantes que celle utilisant une courbe ‘baignoire’ traditionnelle. Q-scale permet aux ingénieurs de repérer l’origine de la gigue de leur circuit plus rapidement que les outils qui étaient utilisés dans le passé.

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