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National Instruments annonce l’unité de source et mesure (SMU) de précision NI PXIe-4139, nouveau produit hautes performances venu enrichir la gamme de SMU de la société. Ce module peut diminuer le coût global des tests et réduire le temps de mise sur le marché pour les ingénieurs de test dans un large éventail d’industries, des semi-conducteurs à l’automobile, en passant par l’électronique grand public.

“Avec le matériel NI PXIe-4139, les ingénieurs et scientifiques bénéficient de limites étendues en termes d’intensité/tension (IV), avec notamment une large gamme de capacités de mesure pulsée jusqu’à 500 W et une sensibilité jusqu’à 100 fA, pour tester toute une variété de matériels avec un seul et même instrument,” souligne Luke Schreier, senior group manager of test systems chez National Instruments. “La compacité du matériel NI PXIe-4139 est également d’une importance cruciale. Elle peut réduire l’encombrement système de manière significative par rapport aux unités de source et mesure traditionnelles.”

Le matériel NI PXIe-4139 intègre la technologie NI SourceAdapt pour permettre aux ingénieurs d’adapter la réponse de SMU optimale à n’importe quelle charge en personnalisant la boucle de contrôle SMU. Cela protège le matériel sous test et améliore la stabilité du système. De plus, la SMU de précision NI PXIe-4139 peut effectuer des mesures à 1,8 Méch./s, ce qui est 100 fois plus rapide que les SMU traditionnelles. Cela permet aux ingénieurs de capturer le comportement du matériel en régime transitoire sans utiliser d’oscilloscope externe, tout en réduisant les temps de test.

“Une redéfinition de l’instrumentation est indispensable si vous souhaitez suivre le rythme de la complexité croissante de l’électronique moderne,” souligne Luke Schreier. “La technologie SourceAdapt, alliée aux atouts intrinsèques de l’instrumentation modulaire PXI et du logiciel de conception de systèmes NI LabVIEW, offre aux ingénieurs un avantage concurrentiel en matière de réduction des temps de test et de protection de leurs matériels sous test.”

Caractéristiques :

 Sensibilité de mesure de courant de 100 fA : caractérise précisément les matériels à base de semi-conducteurs hautes performances.

 Fréquence d’échantillonnage de 1,8 Méch./s : capture les caractéristiques des matériels en régime transitoire sans oscilloscope externe.

 Jusqu’à 17 voies SMU dans une baie 4U 19 pouces : minimise l’encombrement pour les systèmes à grand nombre de voies.

 Technologie SourceAdapt : réduit les temps de test dans leur ensemble et protége le matériel sous test des dépassements (overshoot) et des oscillations même sur des charges inductives ou capacitives élevées.