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Cadence Design Systems, annonce ce jour sous la référence Cadence® Voltus™-XFi Custom Power Integrity une solution d’analyse de l’électromigration et de validation des chutes de tension (EM-IR) pour les circuits « custom » qui se caractérise par une facilité d’utilisation accrue moyennant des réglages minimes, et permet de développer des circuits intégrés efficaces et économes en énergie. Grâce à son intégration transparente aux plateformes Cadence Quantus™, Virtuoso® et Spectre®, les concepteurs peuvent plus que tripler leur productivité par rapport aux outils existants.

La solution Voltus-XFi permet d’extraire, de simuler, d’analyser et de déboguer la conception de circuits intégrés avec une efficacité maximale. En utilisant les paramètres recommandés en fonderie, le cockpit EM-IR unifié propose aux concepteurs un flot de travail complet, de la solution d’extraction des composants parasites Quantus Extraction à la plateforme de simulation Spectre EM-IR en passant par l’outil Virtuoso. Le navigateur EM-IR Results Browser intégré à la solution Voltus-XFi affiche de façon intuitive les violations et permet de zoomer sur les zones d’intérêt, ainsi que de superposer les données dans Virtuoso, facilitant ainsi l’identification et la correction des violations.

Grâce à l’intégration à la solution Voltus IC Power Integrity, les utilisateurs de Voltus-XFi peuvent accéder à un flot transparent pour vérifier la totalité de leurs circuits intégrés. La méthode brevetée basée sur la tension minimise l’empreinte mémoire et fonctionne plus rapidement que la méthode traditionnelle basée sur le courant. Cette option d’utilisation aisée permet d’atteindre automatiquement le compromis nécessaire entre précision et performances conformément aux spécifications du concepteur. Enfin, un processus distribué permet d’améliorer davantage les performances d’exécution.

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