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Lors de l’édition 2025 du forum sur le test numérique à haut débit (High-Speed Digital Test Forum), Rohde & Schwarz proposera, avec ses partenaires industriels Granite River Labs, Texas Instruments et Fixture Solution, un événement en présentiel qui permettra à ses experts de partager des informations essentielles en la matière et de sensibiliser les participants aux meilleures pratiques concernant les tests d’intégrité du signal et de l’alimentation.

L’édition 2025 du High-Speed Digital Test Forum, organisée par Rohde & Schwarz, se tiendra le 8 avril dans son centre technologique situé au siège de l’entreprise à Munich, en Allemagne. Cet événement en présentiel s’intéressera pendant une journée à la manière dont le développement et les tests évoluent avec l’utilisation croissante des technologies numériques dans de nombreux domaines industriels tels que l’intelligence artificielle (IA), les centres de données, l’automatisation industrielle, la communication sans fil, l’aérospatiale et la défense, ainsi que la conduite autonome. Des experts de Rohde & Schwarz assistés par les spécialistes de ses partenaires industriels proposeront des sessions éducatives afin de partager leurs connaissances et leur expérience en la matière.

Le keynote d’ouverture, proposé par Granite River Labs, sera l’un des rendez-vous majeurs de la journée. Il offrira un tour d’horizon concernant les technologies numériques, le big data et l’IA, tout en mettant en avant les tendances et les éléments moteurs du secteur, ainsi que leur l’impact sur la conception de systèmes de transmission à haut débit et les réseaux de distribution d’énergie. Les défis croissants à relever en matière d’intégrité des signaux et de l’alimentation seront également évoqués.

La première session sera animée par des experts de Rohde & Schwarz et de Texas Instruments. Elle concernera les problématiques de conception d’alimentation liées aux systèmes sur puce (SoC) à grande vitesse et aux composants FPGA. Elle s’intéressera aux complexités des rails d’alimentation multiples et des architectures d’alimentation, ainsi qu’au rôle que les oscilloscopes peuvent jouer lors du test et de l’analyse de ces conceptions d’alimentation complexes. Les oscilloscopes permettent notamment aux ingénieurs d’effectuer des mesures précises et de valider les performances des convertisseurs buck multiphasés.

La présentation suivante, animée par Rohde & Schwarz et Granite River Labs, est axée sur les tests de conformité électrique des interfaces USB 3.2 Gen 1 et Gen 2. Les participants obtiendront de précieuses informations sur les exigences de tests d’émetteur et de récepteur et des solutions de test requises. Cette présentation abordera les aspects liés à l’horloge à étalement de spectre, la gigue et l’analyse du diagramme de l’œil.

De plus en plus importantes quantités de données sont traitées par les véhicules modernes. Des experts de Rohde & Schwarz et de Granite River Labs se pencheront donc, lors de la dernière session de la matinée, sur la possibilité de réduire la complexité, la consommation d’énergie et le poids des réseaux embarqués, en s’appuyant sur une architecture zonale plutôt qu’une architecture de réseau orientée vers un domaine. Cette session mettra particulièrement l’accent sur les technologies 10BASE-T1S et MultiGBASE-T1 et sur la manière de tester efficacement ces nouveaux réseaux.

Durant les sessions qui se tiendront l’après-midi, des experts de Rohde & Schwarz examineront les défis posés par l’intégrité des signaux et de l’alimentation par la mise en œuvre de technologies mémoire DDR et LPDDR. Les participants découvriront les outils les plus efficaces pour les phases de débogage et de caractérisation, ainsi que des solutions de test automatisées pour en vérifier la conformité. Une démonstration présentera comment surmonter les effets d’interposition durant les tests de mémoire DDR, et de quelle façon utiliser les outils de débogage tels que le système déclenchement sur zone et la fonction de séparation lecture/écriture pour l’analyse du diagramme de l’œil.

La session suivante organisée par Rohde & Schwarz et Granite River Labs se penchera sur les défis de l’analyse de l’intégrité du signal et des tests de conformité concernant la couche physique de l’interface MIPI D-PHY. Développée à l’origine pour permettre la transmission de données à grande vitesse entre les caméras et les écrans des smartphones, cette spécification relative à la couche physique a été largement adoptée dans les applications automobiles, grand public et industrielles. Cette session offrira un aperçu des tests de conformité spécifiés, en soulignant les défis que de tels tests doivent relever et en proposant des configurations de mesure recommandées afin de les surmonter.

Lors de la session suivante, les experts de Rohde & Schwarz présenteront les procédures de test de conformité de la couche physique de l’interface DisplayPort 1.4a. Ils expliqueront dans le détail comment déboguer les problématiques liées à l’intégrité du signal à l’aide d’outils tels que l’analyse du diagramme de l’œil et la décomposition de la gigue et du bruit.

L’édition 2025 du High-Speed Digital Test Forum s’achèvera par deux exposés, proposés par des experts de Rohde & Schwarz et de Granite River Labs, à propos des tests de circuits imprimés et d’interconnexion. L’un d’eux partagera son expérience relative aux meilleures pratiques mettant en œuvre les analyseurs de réseaux vectoriels (VNA) pour le test de conceptions numériques à grande vitesse. Ces instruments permettent la caractérisation et le de-embedding précis des montages de test. La dernière présentation portera sur le test des phénomènes de diaphonie entre les voies de circuits imprimés et de systèmes d’interconnexion à haut débit.

« Les technologies numériques sont aujourd’hui omniprésentes. Il est donc plus important que jamais que les ingénieurs connaissent les toutes dernières solutions et les meilleures pratiques pour relever les défis actuels en matière de tests d’intégrité des signaux et de l’alimentation », a déclaré Martin Stumpf, responsable du segment High-Speed Digital Test chez Rohde & Schwarz et organisateur de l’événement. « Ce forum organisé en présentiel permettra non seulement aux ingénieurs de profiter des connaissances et de l’expérience de certains des plus grands experts mondiaux dans ce domaine, mais aussi d’échanger leurs propres expériences avec les autres participants. Les technologies gagnant en complexité, ce type d’événement est précieux pour ceux qui veulent se projeter vers l’avenir ».

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