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ARM utilise à l’heure actuelle XJTAG dans sa dernière génération de cartes de base des plateformes RealView, qui contiennent de multiples circuits intergré à boîtiers à billes (BGA) à nombre de broches élevé, notamment des processeurs, des circuits intégrés spécifiques à l’application (ASIC), des réseaux de portes programmables (FPGA) et des dispositifs logiques programmables complexes (CPLD).

Mr Spencer Saunders (à gauche) et Mr Simon Payne

Spencer Saunders, directeur technique, plateforms, System Design Division, ARM, déclare : "Avec des dizaines de milliers de broches sur chaque carte, il ne nous était plus possible de valider ces circuits selon un calendrier commercialement réaliste sans utiliser un système de test boundary scan. Après avoir évalué les différentes options concurrentes, nous avons séléctionné le système boundary scan XJTAG en raison de sa puissance, de ses performances, de sa versatilité et de son coût très rentable ».

Le système XJTAG a permis à ARM d’accélérer le processus de débogage et de test, d’amener la couverture de test jusqu’à 90 %, d’atteindre son objectif de test de production boundary scan de dix minutes par carte et d’améliorer notablement les rendements de production.

Simon Payne, CEO chez XJTAG a déclaré : "Nous sommes enchantés qu’ARM, le premier fournisseur mondial de propriété intellectuelle (IP) de semi-conducteurs ait choisi le système XJTAG. Avec XJTAG, les ingénieurs ARM ont à présent un système boundary scan qui permet d’enregistrer, de peaufiner et de réutiliser de manière récurrente les tests dans l’ensemble du cycle de développement à la fois par son équipe maison et ses partenaires sous-traitants de fabrication".

ARM a développé une solide base d’outils de développement, logiciels et matériels, pour supporter ses system-on-chip IP. Sa gamme de solutions de développement RealView constitue des systèmes idéaux pour des clients élaborant des prototypes pour les produits à base de processeurs ARM et qui conviennent à l’architecture et à l’évaluation des CPU, au développement de matériels et de logiciels et à l’émulation des ASIC.

La fonctionnalité design-for-test (DFT) intégrée à XJTAG a permis à ARM d’utiliser le système boundary scan dès le tout début du procédé de mise au point, et ainsi d’améliorer la conception et de réduire le nombre de modifications nécessaires. "XJTAG a fait économiser à ARM beaucoup de temps du fait qu’il traite automatiquement tout changement de la netlist en s’adaptant aux nouvelles connexions des circuits, ce qui évite le procédé lent de revue manuelle de la netlist à la recherche d’erreurs", a ajouté Joao De Oliveira, VP Business Development, chez XJTAG.

Le système de développement de XJTAG est une solution "prête à l’emploi" a coût très rentable pour le débogage, le test et la gestion de cartes et de systèmes de circuits imprimés électroniques dans l’ensemble du cycle de vie du produit. Le système XJTAG réduit la durée et le coût de la mise au point et de la réalisation de prototypes de cartes en permettant la mise au point précoce des essais, la validation précoce des netlists CAD, la génération rapide des tests fonctionnels et la réutilisation des tests dans l’ensemble des circuits en utilisant les mêmes dispositifs.

Web : http://www.xjtag.com

ARM et RealView sont les marques déposées d’ARM Limited. Toutes les autres marques ou tous les autres noms de produits appartiennent à leurs propriétaires respectifs.