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La nouvelle méthodologie de mesure permet une caractérisation continue sur plaquette, de la quasi-courant continu jusqu’à 250 GHz, en un seul balayage

Winnersh, Royaume-Uni, le 6 octobre 2026 – Keysight Technologies, Inc. (NYSE : KEYS) a collaboré avec l’université de Glasgow, le National Physical Laboratory (NPL) et la société MPI Corporation afin de mettre au point une nouvelle approche de caractérisation à large bande des dispositifs semi-conducteurs de nouvelle génération fonctionnant dans la bande sub-térahertz (sub-THz). Ensemble, ces organismes ont prouvé qu’une caractérisation continue sur plaquette est possible, de la quasi-CC jusqu’à 250 GHz en un seul balayage. L’expérimentation a été menée sur des transistors à haute mobilité électronique en phosphure d’indium (HEMT InP). Cette avancée simplifie grandement les mesures à large bande pour la recherche et la conception de semi-conducteurs de pointe.

Pour accompagner l’évolution des semi-conducteurs vers les fréquences millimétriques et sub-terahertz, les ingénieurs doivent caractériser les transistors sur des plages de plus en plus larges. Le problème est que les méthodes classiques cumulent les bancs de mesure et les étalonnages. Cela a pour conséquence de complexifier les tests et nuit à la cohérence des données pour la modélisation.

Pour concevoir cette solution de mesure à large bande, quatre acteurs ont réuni leurs forces. Ils ont combiné les instruments de Keysight, les composants de l’Université de Glasgow, les sondes sur plaquette de MPI Corporation et l’expertise en métrologie du NPL. La configuration comprenait :

 L’analyseur de réseau vectoriel PNA-X de Keysight
 L’extension de fréquence à balayage unique de 250 GHz de Keysight
 L’unité de source/mesure de précision (SMU) de Keysight
 Les dispositifs HEMT en InP et les étalons d’étalonnage sur plaquette de l’université de Glasgow
 La technologie de sondage à large bande sur plaquette et le logiciel d’étalonnage de MPI Corporation
 Les méthodologies de métrologie et d’étalonnage haute fréquence du NPL

Grâce à cette synergie, les mesures se font en continu de la quasi-CC jusqu’à 250 GHz en un seul contact de sonde. Plus besoin de changer de configuration : la cohérence des paramètres S est garantie. De plus, le filtrage et l’étalonnage intégrés de la source garantissent la pureté du signal millimétrique à la pointe de la sonde.

« Caractériser les dispositifs du quasi-courant continu jusqu’à 250 GHz en un seul balayage simplifie grandement le travail des chercheurs qui développent des semi-conducteurs de nouvelle génération », déclare Thierry Locquette, VP of Sales, Europe, Middle East & Africa chez Keysight. « En combinant instrumentation, sondage et métrologie, cette collaboration fournit aux ingénieurs des données à large bande fiables pour accélérer l’innovation. »

« Des mesures précises sur plaquette sont indispensables pour concevoir des semi-conducteurs fiables. C’est d’autant plus vrai que les technologies exploitent désormais les fréquences millimétriques et sub-térahertz », ajoute Dr Xiaobang Shang, Principal Scientist and On-wafer Measurement Lead au NPL. « Nous sommes ravis d’avoir apporté l’expertise du NPL à cette collaboration. Notre savoir-faire en métrologie et en étalonnage haute fréquence sur plaquette a permis de valider une méthode concrète pour mesurer les dispositifs à large bande, en s’appuyant sur ce système de balayage de pointe unique. »

« Atteindre 250 GHz nécessite une intégration parfaite de la plateforme de sondage, d’étalonnage et de mesure », ajoute Matthew White, Director of Business Development chez MPI Corporation. « Cette collaboration offre une solution concrète : réaliser des mesures cohérentes en un seul contact de sonde. Les chercheurs simplifient ainsi leurs tests et accélèrent le développement des composants en toute confiance. »