Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

Réunissant des experts de l’industrie et du monde académique autour des méthodes fiables de mesure et de validation pour les systèmes d’électronique de puissance modernes.

Légende : Rohde & Schwarz invite les développeurs en électronique et les ingénieurs test à sa conférence en ligne Power Electronics « From Design to Validation »

Le marché de l’électronique de puissance est stimulé par des exigences accrues en matière de rendement, des densités de puissance plus élevées et une intégration croissante avec les réseaux électriques à grande échelle. Par conséquent, les ingénieurs doivent faire face à des comportements non idéaux des composants, à des contraintes transitoires rapides sur les dispositifs à large bande interdite et à des exigences CEM de plus en plus strictes. La conférence abordera ces défis en présentant des solutions centrées sur la mesure, pouvant être mises en œuvre avec des oscilloscopes modernes, des analyseurs de réseaux vectoriels et des analyseurs de puissance de haute précision. Le programme s’ouvre le 5 mai avec une keynote de Tobias Keller (Hitachi Energy) intitulée « Power Semiconductors : Shaping the Future Power Grid – Performance and Reliability for Future Decades ». Tobias Keller abordera la qualification des dispositifs en silicium et en carbure de silicium (SiC) pour les applications réseau haute tension, en mettant l’accent sur les cycles thermiques, la robustesse aux courts-circuits et les données de fiabilité à long terme.

Une seconde keynote, présentée le 6 mai par Veit Hellwig (Infineon Technologies), examinera l’impact de la technologie nitrure de gallium (GaN) sur les topologies d’onduleurs moteurs haute tension. En plus des keynotes, la conférence comprend une série de sessions techniques. Une présentation analysera la caractérisation des composants passifs, en mettant en évidence des méthodes d’extraction des inductances et capacités parasites à des fréquences supérieures à 100 MHz, et en démontrant l’influence de ces non-idéalités sur la stabilité des convertisseurs. Une autre session détaillera la caractérisation dynamique automatisée des dispositifs de puissance SiC et GaN, en montrant comment des bancs de test double impulsion peuvent être synchronisés avec des numériseurs à haute vitesse afin de réduire l’incertitude de mesure et de capturer des phénomènes de récupération rapides.

Les thématiques de compatibilité électromagnétique sont abordées dans deux présentations dédiées. La première fournit des recommandations pratiques sur l’utilisation de sondes de champ proche pour localiser les sources d’émissions rayonnées et valider l’efficacité des filtres EMI. La seconde démontre un flux de mesure complet des émissions conduites sur un prototype à petite échelle, en utilisant un réseau de stabilisation d’impédance de ligne (LISN) associé à un oscilloscope mixte moderne. L’intervenant présentera également une méthodologie de conception de filtre exploitant les capacités temps-fréquence de l’instrument.

Un autre webinaire traite du besoin croissant de mesures précises du rendement pour les alimentations des centres de données et des serveurs IA. En utilisant des analyseurs de puissance de haute précision capables de suivre des formes d’onde déformées et des transitoires de charge rapides, les participants apprendront à obtenir des valeurs réelles de puissance d’entrée et de sortie conformes aux exigences de certification 80 PLUS. La dernière session porte sur la conformité des courants harmoniques et du flicker de tension pour les produits basse tension connectés au réseau. L’intervenant passera en revue les limites et procédures d’essai définies dans les normes IEC/EN 61000-3-2/-3-3 et IEC/EN 61000-3-12/-3-11, et démontrera comment un logiciel de test de conformité intégré à un analyseur de puissance permet d’obtenir des décisions automatisées de type réussite/échec, depuis l’évaluation des prototypes jusqu’à l’homologation finale.

Parmi les intervenants figurent des experts de Rohde & Schwarz, Hitachi, Infineon, PE-Systems, Würth Elektronik ainsi que des universités de Brême et de Saragosse. Leurs contributions associent expertise académique et expérience industrielle, offrant aux participants à la fois des bases théoriques et des stratégies de mesure pratiques. La conférence est gratuite, mais une inscription est requise. Le programme complet, les biographies des intervenants et le portail d’inscription sont disponibles à l’adresse suivante : http://www.rohde-schwarz.com/power-... https://www.rohde-schwarz.com