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Un nouveau workflow de conception de MMIC au GaN réduit les risques de fabrication pour la 5G, le satellite et la défense

Keysight Technologies, Inc. (NYSE : KEYS) et WIN Semiconductors Corp. annoncent le lancement d’un workflow conjoint de conception de MMIC, permettant aux bureaux d’études spécialisés dans les puces au GaN de réussir leur tapeout dès le premier essai. Cette solution unifiée intègre au sein d’un même environnement la simulation multi-domaine sur puce, le routage 3D avec vérification, ainsi que la conception de la carte d’évaluation du MMIC (hors puce). Ce workflow s’adresse au nombre croissant d’entreprises qui développent des MMIC au GaN pour les stations de base 5G, les points d’accès Wi-Fi, les charges utiles des satellites et les systèmes de radar de défense.

L’échec d’un « tapeout » constitue un risque majeur pour les concepteurs de puces, chaque nouvelle itération auprès d’une fonderie entraînant plusieurs semaines de retard. Pour y remédier, ce nouveau workflow automatise l’ensemble des étapes de simulation, d’optimisation et de vérification indispensables à la validation d’une conception MMIC (circuit intégré micro-onde monolithique). Cette approche rigoureuse garantit qu’aucune analyse critique n’est omise avant la soumission du design en fabrication.

Au-delà de la sécurisation du flux de conception, cette solution répond à un impératif commercial fort. Dans l’industrie, les acheteurs de MMIC n’engagent leurs budgets qu’après avoir mesuré les performances concrètes sur une carte d’évaluation physique — un écosystème complexe combinant le MMIC, son boîtier, le circuit imprimé et les connecteurs de test. Le workflow permet aux ingénieurs de concevoir et d’optimiser conjointement tous ces composants, garantissant que les performances mesurées via les équipements de test répondent scrupuleusement aux spécifications attendues. Alors que le marché mondial des dispositifs RF au GaN (Nitrure de Gallium) est en pleine expansion et devrait atteindre 2,77 milliards de dollars d’ici 2031, la capacité à fournir cette preuve de performance sur carte d’évaluation devient un facteur de différenciation critique pour les bureaux d’études souhaitant capter cette croissance.

Le tout dernier kit de conception de processus GaN NP 120P de WIN Semiconductors permet aux concepteurs de MMIC d’accéder à des modèles de processus et à des règles de disposition. Intégrés au logiciel Keysight Advanced Design System (ADS) et à RF Circuit Simulation Professional, ces modèles automatisent le workflow afin de garantir la réussite de la mise en production des MMIC dès le premier essai.

« Nous sommes ravis de collaborer avec Keysight afin de proposer une solution LVS sur mesure au sein du PDK WIN ADS », déclare Richard Kuo, Director of Design Service chez WIN Semiconductors. « En associant l’expertise de Keysight en matière d’ADS au PDK robuste de WIN et à sa technologie de processus de pointe, nous avons fourni une solution de vérification complète qui a permis de rationaliser le flux de conception du client et d’accélérer la mise sur le marché de produits RF avancés, avec davantage de confiance et de fiabilité. »

« Le kit de développement PDK complet de WIN, associé aux outils de simulation et de vérification de Keysight, offre aux concepteurs un parcours unique, de la conception de la puce jusqu’à la carte d’évaluation », déclare Nilesh Kamdar, General Manager, EDA, Design Engineering Software chez Keysight. « Les bureaux d’études peuvent désormais valider les performances globales du système avant la fabrication, ce qui donne à leurs clients la confiance nécessaire pour s’engager. »