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Ils allient un courant élevé et un faible courant de fuite pour permettre une mesure précise et une commutation efficace des voies de signal et d’alimentation, ce qui simplifie la conception

Toshiba Electronics Europe GmbH (« Toshiba ») présente deux photorelais, les TLP3487 et TLP3491, conçus pour les équipements de test de semi-conducteurs. Logés dans un boîtier P-SON4 compact, ces composants supportent un courant élevé à l’état passant et un faible courant de fuite à l’état bloqué, contribuant ainsi à préserver la précision des mesures. Les applications typiques incluent les équipements de test automatisés (automated test equipment, ATE), les instruments de mesure, les testeurs de circuits intégrés logiques à haute vitesse, de mémoires et de SoC , ainsi que les équipements périphériques utilisés dans les environnements de test de semi-conducteurs.

Les systèmes de test de semi-conducteurs appliquent des tensions et des courants à chaque broche du dispositif testé (device under test, DUT) afin de vérifier son bon fonctionnement. Pour ce faire, les voies d’alimentation et de signal de chaque broche doivent être commutées de manière fiable. Les photorelais, qui sont des relais statiques à sorties MOSFET, sont couramment utilisés à cette fin. Cependant, le courant de fuite à l’état « OFF » du relais peut affecter les résultats de mesure ; il est donc important de le minimiser. Par ailleurs, des fonctions telles que l’alimentation et la commande de charge nécessitent la capacité de supporter des courants plus élevés. Ceci rend nécessaire l’utilisation de dispositifs de commutation capables de répondre à ces exigences.

Les TLP3491 et TLP3487 atteignent tous deux un courant à l’état passant élevé de 2,0 A (max.) et un faible courant de fuite à l’état bloqué, respectivement de 1 nA à 40 V et de 10 nA à 60 V, grâce à une conception optimisée de l’étage de sortie MOSFET. Ce niveau de performance était difficile à atteindre avec les produits TLP3481 existants de Toshiba, logés dans le même boîtier P-SON4.

Pour les applications nécessitant un courant plus élevé, on a souvent recours à plusieurs dispositifs combinés, ce qui augmente la surface de montage et le courant de fuite à l’état bloqué. Les TLP3491 et TLP3487 peuvent en revanche être utilisés comme un seul et même composant, ce qui permet de réduire le nombre de composants et de gagner de la place sur la carte. De plus, leur boîtier compact P-SON4 (3,4 mm × 2,1 mm × 1,3 mm) permet un encombrement réduit, environ 74 % inférieur à celui des photorelais 2,54SOP4 comparables et environ 84 % inférieur à celui des dispositifs en boîtier 2,54SOP6. La plage de températures de fonctionnement est de -40 °C à +110 °C.

Toshiba poursuivra ses efforts pour réduire davantage le courant de fuite à l’état bloqué, prendre en charge des courants plus élevés et miniaturiser les photorelais, élargissant ainsi sa gamme de produits afin de répondre aux besoins croissants de précision et de densité des testeurs de semi-conducteurs.