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Alors que les communications par satellite et les systèmes de défense se développent, les tests RF deviennent de plus en plus essentiels et complexes. Rohde & Schwarz organisera la deuxième édition de son RF Testing Innovations Forum virtuel le 20 mai 2026, où ingénieurs et spécialistes partageront des solutions pratiques pour les applications les plus exigeantes d’aujourd’hui.

 Caption : Lors du RF Testing Innovations Forum, les participants peuvent découvrir des solutions pratiques pour les applications RF les plus exigeantes d’aujourd’hui. Lors du RF Testing Innovations Forum 2026 en ligne, des experts de Rohde & Schwarz, Dassault Systèmes, FormFactor et Focus Microwaves présenteront des interventions dédiées aux défis actuels des tests RF. Le programme couvrira divers sujets tels que les mesures résiduelles pour la caractérisation des dispositifs actifs et la validation de phase absolue sur différentes fréquences.

Accélérer la mise sur le marché des composants RF pour l’aéronautique et la défense

Markus Loerner, Market Segment Manager RF & Microwave Components chez Rohde & Schwarz, ouvrira la conférence avec sa keynote « La commercialisation des composants spécialisés pour l’aéronautique et la défense ». Il expliquera pourquoi la croissance des communications satellitaires et des applications de défense nécessite davantage de systèmes RF, ce qui entraîne une demande accrue de composants RF dédiés à ces applications exigeantes. Il comparera différents sous-systèmes RF pertinents et en déduira des exigences de test spécifiques afin de simplifier et d’accélérer la mise sur le marché.

L’importance de la phase absolue et de la calibration

De nombreux ingénieurs de conception sous-estiment l’importance des mesures de phase absolue sur une large plage de fréquences. Une présentation proposera une vue d’ensemble des approches de calibration de phase, avec un focus sur les générateurs de peignes et leur traçabilité, ainsi que des études de cas illustrant leurs applications. Celles-ci incluent les transformations temporelles, la validation de convertisseurs de fréquence et des considérations spécifiques aux instruments tels que les analyseurs de réseau vectoriels (VNA).

Méthodes et bonnes pratiques de test sur wafer en sub-THz

À mesure que les systèmes de communication numérique multi-gigabit évoluent vers des fréquences plus élevées, les ingénieurs doivent étendre les limites des mesures S sur wafer afin de modéliser et caractériser précisément les dispositifs. Une démonstration en direct dans les laboratoires FormFactor à Dresde présentera les bonnes pratiques pour obtenir des mesures S en bande D précises, stables et reproductibles à l’aide d’un R&S ZNA avec extensions de fréquence jusqu’à 170 GHz. Elle mettra en évidence les décisions critiques de mesure dans un environnement sur wafer.

Techniques de validation des paramètres de bruit

La conférence se conclura par une session consacrée à la validation du bruit dans les circuits RF jusqu’à 67 GHz. Des mesures de bruit précises et fiables sont essentielles face à l’augmentation des exigences de performance des amplificateurs à faible bruit (LNA). Cette évolution est portée par les communications satellitaires LEO, la télédétection et l’informatique quantique. Le LNA étant généralement le premier étage d’un récepteur, ses caractéristiques de bruit dominent le facteur de bruit global et la sensibilité. Cette présentation abordera les principes fondamentaux de mesure du bruit ainsi que l’extraction des paramètres via la méthode de source froide. Les mesures seront réalisées avec le dernier analyseur de réseau vectoriel R&S ZNA équipé des capacités de mesure de facteur de bruit. La participation à la conférence est gratuite, mais une inscription est requise.

Le programme complet, les biographies des intervenants et l’inscription sont disponibles ici : https://www.rohde-schwarz.com/rftif