Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

essemtec : une stratégie gagnante

Par D’ Adrian Schärli, Azular GmbH, pour Essemtec AG

L’utilisation en parallèle des machines de report automatique et des machines de report semi-automatique...

Clonage et refabrication de cartes électroniques chez GET électronique sur testeur a sondes mobiles SEICA

Les testeurs à sondes mobiles au sein des ateliers de réparation, déjà une réalité...

La terminologie des alliages de brasure dans l’électronique

Par Jean LEPAGNOL.

Un METAL est un corps pur figurant dans la classification périodique. Il est identifié par un symbole. Par exemple Pb pour le plomb, Sn pour l’étain, Cu pour le cuivre, Ag pour l’argent, Au pour l’or, In pour l’indium...

PTC dévoile Creo™, une solution de conception totalement inédite.

Les quatre innovations majeures de Creo™ éliminent les problèmes chroniques de la CAO traditionnelle...

ISATIS : Fours de refusion par phase vapeur IBL

La phase vapeur se révèle être la solution technico-économique la plus pertinente pour les sous-traitants électronique à la recherche de qualité et flexibilité...

Une crème à braser sans halogène !!

Crème sans plomb : la DSP 866 avec flux et sans halogène de classification ROL0...

Défis de mise en oeuvre pour la traçabilité des circuits imprimes utilisant la RFID

Par Ikukei Kimura, Responsable marketing et de la promotion des produits RFID à Murata Japon

Les circuits intégrés d’identification radio fréquence sont une alternative intéressante aux bar- codes pour la traçabilité des circuits imprimés...

FlyScan : Le renouveau du test à sondes mobiles

Par Stéphane DUPOUX, Directeur Seica France

Une intégration efficace entre les approches Flying Probe et Boundary Scan, proposée par Seica, qui multiplie les avantages de chaque technique séparée...

Contraintes et solutions packaging pour l’électronique de puissance haute température

Par Bruno Allard et Cyril Buttay, chercheurs au laboratoire Ampère, Lyon.

Les applications de l’électronique de puissance haute température sont multiples...

Des normes internationales pour les tests en nanotechnologie

par Jonathan L. Tucker - Keithley Instrument

Augmenter les opportunités dans ce domaine et limiter les risques de la recherche...